Тестер інтегральних схем Багатофункціональний тестер tra
- Час доставки: 7-10 днів
- Стан товару: новий
- Доступна кількість: 500
Просматривая «Тестер интегральных схем Многофункциональный тестер ошибок», вы можете быть уверены, что данный товар из каталога «RFID и SmartCard» будет доставлен из Польши и проверен на целостность. В цене товара, указанной на сайте, учтена доставка из Польши. Внимание!!! Товары для Евросоюза, согласно законодательству стран Евросоюза, могут отличаться упаковкой или наполнением.
Функція:
1. Кілька режимів тестування: багатофункціональний тестер мікросхем – це професійний прилад, розроблений для інженерів мікроелектроніки та обслуговуючого персоналу. Можна вибрати різні режими тестування, наприклад режим 5 В, режим 3,3 В, режим АВТО і так далі.
2. Основні застосування: тестери IC серії 74HC, серії 74LS, серії CD4000, серії HEF400, серії 4500, операційні підсилювачі, інтерфейсні мікросхеми, оптрони, автоматична ідентифікація транзисторів, ідентифікація напруги регуляторів напруги тощо.
3 . Ефективне вимірювання: тестер IC має понад 1300 вбудованих моделей даних мікросхем і понад 420 моделей даних транзисторів, охоплюючи найпоширеніші пристрої в межах 24 контактів, що значно зменшує навантаження та підвищує ефективність роботи.
4. Кілька типів тестів: IC Meter включає тест логічного пристрою, тест драйвера інтерфейсу, операційний підсилювач, контрольний тест, ідентифікацію транзистора, тест значення напруги регулятора напруги, оптрон.
5. Автоматичне вимкнення живлення: багатофункціональний тестер IC автоматично вимкнеться через 60 секунд без жодної операції.
Технічні характеристики:
- Тип елемента: тестер IC
- Матеріал: ABS
- Характеристика батареї: 2 батарейки типу АА (не входять до комплекту) li>
- Застосування: тестова серія 74HC, серія 74LS, серія CD4000, серія HEF400, операційні підсилювачі серії 4500, інтерфейсні мікросхеми, Оптрон, автоматична ідентифікація трубки основного корпусу, ідентифікація значення напруги регулятора тощо. Типи тестів: тестування логічних пристроїв, тестування драйверів інтерфейсу, операційні підсилювачі, порівняльне тестування, ідентифікація транзисторів, тестування напруги регулятора напруги, оптрон